那么， PCB 的測(cè)試點(diǎn)長(zhǎng)什么樣呢？測(cè)試點(diǎn)通常是針形的，尖端較細(xì)，而底部較粗，通常有金屬包覆。測(cè)試點(diǎn)一般是用來連接測(cè)試儀器的探頭，以便方便地測(cè)試 PCB 的各個(gè)部分電路。測(cè)試儀器的探針會(huì)針對(duì)測(cè)試點(diǎn)的金屬部分來進(jìn)行連接，以獲取 PCB 的測(cè)試數(shù)據(jù)。

在布局測(cè)試點(diǎn)時(shí)，有兩種常見的方式：在線路上和單獨(dú)拉出來。在線路上的測(cè)試點(diǎn)布置在電路連線的路徑上，直接將測(cè)試點(diǎn)與電路連線相結(jié)合。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，成本低，但是沒有單獨(dú)的測(cè)試點(diǎn)可能會(huì)很難進(jìn)行測(cè)試。

單獨(dú)拉出來的測(cè)試點(diǎn)則是在 PCB 上單獨(dú)留出一些位置，獨(dú)立連接測(cè)試點(diǎn)，并與電路通過連接進(jìn)行測(cè)試。這種方式可以減少測(cè)試時(shí)的干擾，更好地保護(hù)電路的穩(wěn)定性，對(duì)于測(cè)試靈敏度的要求較高的電路來說這是更優(yōu)的選擇。

單獨(dú)拉出測(cè)試點(diǎn)的布局方式一般會(huì)更加復(fù)雜，因?yàn)樾枰A(yù)留更多的空間。同時(shí)，測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量也需要考慮，過多的測(cè)試點(diǎn)會(huì)造成 PCB 空間壓縮，一定程度上影響電路性能。

最后， PCB 的測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)和布局是 PCB 設(shè)計(jì)中不可或缺的一部分，需要在設(shè)計(jì)時(shí)注意合理安排測(cè)試點(diǎn)數(shù)量和位置，以保證 PCB 的穩(wěn)定性和性能。

總結(jié)：

在 PCB 的設(shè)計(jì)中，測(cè)試點(diǎn)的設(shè)計(jì)和布局是不可忽視的一部分，測(cè)試點(diǎn)的形狀和布局位置非常重要。測(cè)試點(diǎn)可以準(zhǔn)確地測(cè)試電路的連通性和性能穩(wěn)定性。測(cè)試點(diǎn)的布局方式有在線路上和單獨(dú)開口兩種方式，是根據(jù)不同的電路需求和測(cè)試靈敏度來決定的。設(shè)計(jì) PCB 時(shí)，合理布局測(cè)試點(diǎn)可以為您的電路設(shè)計(jì)提供有力的支持。